GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備。 GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備。 GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法。 GB/T2423.2-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法。 GB/T 2423.3-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法。 GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環)。 GB/T 2423.22-2002電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N 溫度變化試驗方法。 GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》。 GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》。 GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》。 MIL-STD810D方法502.2 美國標準。 GJB 150.9-1986 設備環境試驗方法 濕熱試驗。 IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環境試驗規程.第2部分:第1節.試驗.試驗A:低溫試驗。 EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。 GB/T 2423.34-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環試驗。 |